一、瓷介電容內(nèi)部的結(jié)瘤問題

結(jié)瘤問題是瓷介電容制造過程中，金屬化電極材料涂敷不均勻?qū)е碌慕饘倩姌O堆積變形所形成的。由于金屬化電極的變形會(huì)導(dǎo)致瓷介介質(zhì)變形，從而使電容器的介質(zhì)變薄而使擊穿電壓下降。金屬化電極的變形也可導(dǎo)致電容在加電時(shí)電場不均勻而擊穿失效。

二、 瓷介電容器內(nèi)部的介質(zhì)空洞問題

介質(zhì)空洞是瓷介電容器內(nèi)部常見的問題，它是瓷介電容器在制造過程中瓷介質(zhì)的空洞所造成的。它對(duì)此介電容器的使用可靠性的主要影響是：

1、空洞的存在會(huì)導(dǎo)致瓷介電容器局部擊穿電壓降低而導(dǎo)致?lián)舸┦Щ騼蓚€(gè)電極之間的絕緣電阻降低。

2、在電壓較高時(shí)會(huì)使空洞處的空氣電離化而產(chǎn)生漏電通道而漏電失效。

三、瓷介電容器內(nèi)部的分層問題

瓷介電容器內(nèi)部的分層問題也是瓷介電容器內(nèi)部常見的問題，它是瓷介電容器在制造過程中瓷介質(zhì)與金屬化電極之間接觸不緊密所造成的。它對(duì)介電容器的使用可靠性的主要影響是：

1、可導(dǎo)致電容的擊穿電壓下降，也可導(dǎo)致兩個(gè)極之間的絕緣下降。

2、分層問題可導(dǎo)致瓷介電容器的抗機(jī)械能力進(jìn)一步下降。

四、 瓷介電容器的電極與電容主體接觸不好

這種問題是瓷介電容在制造過程中電極與電容主體之間燒焊工藝不好所造成的。這種接觸不好在應(yīng)用過程中會(huì)造成電容器的開路和接觸電阻增大失效。