芯片常用的高低溫試驗箱是哪種？
一般來講，芯片測試常用的高低溫試驗箱為LK-80G，產(chǎn)品具備高溫，低溫，濕熱等循環(huán)編程試驗，在國內(nèi)眾多的芯片企業(yè)，均有使用到LK-80G高低溫試驗箱。
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一、芯片常用的高低溫試驗箱技術(shù)參數(shù)：
  1、溫度范圍：0℃～150、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
  2、濕度范圍：20%～98%R.H（溫度在15℃～80℃）
  3、溫度波動度：≤±0.5℃
  4、溫度均勻度：≤±2℃
  5、濕度波動度：+2%、-3%R.H
  6、升溫速度：1.0～3.0℃/min
  7、降溫速率：0.7～1.2℃/min
  8、時間設(shè)定范圍：0～9999h
  9、電源電壓：AC380V/50HZ

二、芯片常用的高低溫試驗箱規(guī)格（單位:mm）：（可按客戶要求定做更大尺寸）
型號 LK-80G  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：970×1360×970
型號 LK-150G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：1070×1460×1070
型號 LK-225G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1070×1610×1170
型號 LK-408G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1170×1710×1270
型號 LK-800G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1550×1840×1290
型號 LK-1000G內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1550×1840×1470

三、芯片常用的高低溫試驗箱控制系統(tǒng)：
  1、采用全進口高精度數(shù)顯溫濕度控制儀表，P.I.D高精度控制；
  2、精度：0.1、解析度：±0.1℃，感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；
  3、溫度控制采用P.I.D＋S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制；
  4、具有自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定；
  5、控制器操作界面實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示；
  6、溫度循環(huán)系統(tǒng)采用耐溫低噪音空調(diào)型電機，多葉式離心風(fēng)輪；

四、芯片常用的高低溫試驗箱制冷系統(tǒng)：
  1、壓縮機：全封閉原裝法國泰康；
  2、制冷方式：單（雙）機制冷；
  3、冷凝方式：強制風(fēng)冷冷卻；
  4、電磁閥、油分離器、干燥過濾器、修理閥、冷媒流量視窗、貯液筒均采用進口原裝件；

五、加熱、加濕系統(tǒng)：
  1、高溫低溫濕熱完全獨立系統(tǒng)，采用遠紅外鎳合金高速加溫電熱器；
  2、外置式鍋爐蒸汽式加濕器具有節(jié)能降耗功能，具有水位自動補償；

六、芯片常用的高低溫試驗箱體材質(zhì)：
  1、內(nèi)膽為進口優(yōu)質(zhì)鏡面不銹鋼板（SUS304）；
  2、外殼均采用優(yōu)質(zhì)A3鋼板數(shù)控機床加工成型，外殼表面進行噴塑處理，更顯光潔美觀；
  3、保溫材質(zhì)選用高密度玻璃纖維棉，保溫棉厚度為100mm/120mm；
  4、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃，內(nèi)設(shè)照明燈，內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜加熱除霜清楚觀察試驗過程；
  5、門與箱體之間采用雙層耐高溫高漲性密封條以確保測試區(qū)的密閉；
  6、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪；
  7、箱體左側(cè)配直徑50mm測試孔一個，可供外接測試電源線或信號線使用，孔徑或孔數(shù)增加需說明；

七、芯片常用的高低溫試驗箱安全裝置：
     設(shè)備整體超溫、制冷系統(tǒng)過載、制冷系統(tǒng)超壓、漏電、缺水、運行指示，故障報警后自動停機等保護；

八、可程式高低溫試驗箱設(shè)備使用條件：
  1、環(huán)境溫度：5℃～30℃、環(huán)境濕度：≤85%；
  2、機器放置前后左右各80公分不可放置東西